[发明专利]电容器及制造电容器之方法有效
申请号: | 02823791.9 | 申请日: | 2002-11-14 |
公开(公告)号: | CN1596463A | 公开(公告)日: | 2005-03-16 |
发明(设计)人: | C·阿伦斯;W·哈通;C·赫祖姆;R·洛塞汉德;A·鲁格梅 | 申请(专利权)人: | 因芬尼昂技术股份公司 |
主分类号: | H01L21/334 | 分类号: | H01L21/334;H01L29/94 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 程天正;张志醒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 一电容器,其系包括一半导体衬底(114),而在该衬底(114)之中系形成有一沟渠(112a、112b),并且,该衬底(114)系经由该沟渠(112a、112b)而被掺杂。一介电层(118)系覆盖于该沟渠(112a、112b)之表面,其中一导电材质(120a、120b)系更进一步地被配置于该沟渠之中。在该电容器中亦形成有一第一接触结构(126),其系以导电的方式接触在该沟渠(112a、112b)中的该导电材质(120a、120b),以及一第二接触结构(130),其系以导电的方式接触该已掺杂之半导体衬底(114)。该电容器系具有电极的低串联电阻,并且可以一简单的方式而加以制造。 | ||
搜索关键词: | 电容器 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种电容器,其包括:一已掺杂之半导体衬底(114;134);一沟渠(112、112a、112b;312、312a、312b),形成在该半导体衬底(114;134)之中;一介电层(118;318),覆盖该沟渠(112、112a、112b;312、312a、312b)之表面;一导电材质(120a、120b;320a、320b),位于该沟渠(112、112a、112b;312、312a、312b)之中;一第一接触结构(126;326),其系以导电的方式接触在该沟渠(112、112a、112b;312、312a、312b)中的该导电材质(120a、120b;320a、320b);以及一第二接触结构(130;330),其系以导电的方式接触该已掺杂之半导体衬底(114;314)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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