[发明专利]贴合晶片的制造方法有效

专利信息
申请号: 02823371.9 申请日: 2002-11-19
公开(公告)号: CN1592970A 公开(公告)日: 2005-03-09
发明(设计)人: 中野正刚;富泽进一;三谷清 申请(专利权)人: 信越半导体株式会社
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 包于俊
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明是将硅单晶所构成的接合晶片31与衬底晶片32通过氧化膜33进行贴合后、对接合晶片31实施减厚加工以制造贴合晶片39的方法。若使用以下的改进化学腐蚀晶片来作为接合晶片31及衬底晶片32,即可减少接合热处理后的未结合区域UA。改良化学腐蚀晶片是这样制成,它在腐蚀工序中,在碱腐蚀后进行酸腐蚀,这时使碱腐蚀的腐蚀量大于酸腐蚀的腐蚀量。这样,在贴合晶片的制造中,可减少接合晶片与衬底晶片的未结合区域。
搜索关键词: 贴合 晶片 制造 方法
【主权项】:
1、一种贴合晶片的制造方法,是将硅单晶所构成的接合晶片与衬底晶片通过绝缘层或直接贴合后,对接合晶片实施减厚加工,其特征在于,将硅单晶棒经切片、倒角、研磨、腐蚀、镜面研磨及洗净这些工序所制得的晶片,用作为接合晶片与衬底晶片,且在腐蚀工序中,在碱腐蚀后进行酸腐蚀,这时,使碱腐蚀的腐蚀量大于酸腐蚀的腐蚀量。
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