[发明专利]贴合晶片的制造方法有效
| 申请号: | 02823371.9 | 申请日: | 2002-11-19 |
| 公开(公告)号: | CN1592970A | 公开(公告)日: | 2005-03-09 |
| 发明(设计)人: | 中野正刚;富泽进一;三谷清 | 申请(专利权)人: | 信越半导体株式会社 |
| 主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 包于俊 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明是将硅单晶所构成的接合晶片31与衬底晶片32通过氧化膜33进行贴合后、对接合晶片31实施减厚加工以制造贴合晶片39的方法。若使用以下的改进化学腐蚀晶片来作为接合晶片31及衬底晶片32,即可减少接合热处理后的未结合区域UA。改良化学腐蚀晶片是这样制成,它在腐蚀工序中,在碱腐蚀后进行酸腐蚀,这时使碱腐蚀的腐蚀量大于酸腐蚀的腐蚀量。这样,在贴合晶片的制造中,可减少接合晶片与衬底晶片的未结合区域。 | ||
| 搜索关键词: | 贴合 晶片 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种贴合晶片的制造方法,是将硅单晶所构成的接合晶片与衬底晶片通过绝缘层或直接贴合后,对接合晶片实施减厚加工,其特征在于,将硅单晶棒经切片、倒角、研磨、腐蚀、镜面研磨及洗净这些工序所制得的晶片,用作为接合晶片与衬底晶片,且在腐蚀工序中,在碱腐蚀后进行酸腐蚀,这时,使碱腐蚀的腐蚀量大于酸腐蚀的腐蚀量。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





