[发明专利]不合格判断方法和分析装置有效
| 申请号： | 02823074.4 | 申请日： | 2002-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN1589400A | 公开（公告）日： | 2005-03-02 |
| 发明（设计）人： | 森田悦在;大浦佳实;新野铁平 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社;松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/327 | 分类号： | G01N27/327;G01N27/26;G01N27/416 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 分析装置(A)具有：在把试料导入传感器(2)的试药层(23)而且在一对电极(22a)(22b)上施加电压时，测量该一对电极间的电流的电流测量装置(42)，和根据规定基准时间以后的所述电流对所述试料进行分析的计算处理部(3)。分析装置(A)还具有以不合格判断装置(44)，观测经过所述基准时间前后的所述电流变化，而且在该电流变化方式与规定变化方式不同时判断传感器(2)为不正常。 | ||
| 搜索关键词： | 不合格 判断 方法 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种不合格判断方法，在把试料导入传感器试药层的同时，经一对电极将电压施加在所述试药层和所述试料上，测量在该一对电极间的电流，以该电流达到预定的试料导入判断用阀值的时间作为基准时间，根据该基准时间以后的所述电流进行所述试料分析，在此情况下，判断所述传感器是否正常，其特征在于，观测经过所述基准时间前后的所述电流的变化，而且在该电流变化方式与规定变化方式不同时，判断为所述传感器不正常。
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