[发明专利]有针对性应用的基于事件的半导体存储器测试系统无效
| 申请号： | 02820406.9 | 申请日： | 2002-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN1714296A | 公开（公告）日： | 2005-12-28 |
| 发明（设计）人： | 菅森茂;高桥公二;矢元裕明 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G11C29/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种用于测试半导体器件的半导体测试系统，具有多个不同的测试器模块，和用于产生针对被测试的器件中的存储器的算法码型的算法码型发生器(ALPG)，从而实现低成本和专用的存储器测试系统。该半导体测试系统包括两个或多个性能彼此不同的测试器模块、产生针对特定存储器的算法码型的ALPG模块；容纳测试器模块和ALPG模块的组合的测试系统主机、电连接测试器模块和被测试器件的测试设备、在测试设备中提供的用于安装被测试器件的执行板，以及通过测试器总线与测试器模块通信从而控制测试系统的整体操作的主计算机。 | ||
| 搜索关键词： | 针对性 应用 基于 事件 半导体 存储器 测试 系统 | ||
【主权项】：
1、一种半导体测试系统，包括：性能彼此相同或不同的多个测试器模块；产生针对被测试器件的存储器的算法码型的算法码型发生器(ALPG)，所述ALPG模块由可编程逻辑器件形成，其中通过应用基于硬件的程序来构成至少一个状态机，从而能够产生特定的算法测试码型；用于容纳测试器模块和ALPG模块的任意组合的测试系统主机；设置在测试系统主机上测试装置，用于电连接测试器模块和被测试器件；在测试设备中提供的用于安装被测试的器件的执行板；以及通过测试器总线与测试系统中的测试器模块通信，来控制半导体测试系统的整体操作的主计算机。
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