[发明专利]电子装置无效
| 申请号： | 02818281.2 | 申请日： | 2002-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN1555491A | 公开（公告）日： | 2004-12-15 |
| 发明（设计）人： | H·G·H·维穆伦;T·F·瓦亚耶斯;G·E·A·洛斯伯格 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;张志醒 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种具有多个子装置(120a，120b)的电子装置(100)，其中各子装置(120a；120b)与测试接口(140a；140b)相连。测试接口(140a；140b)排列成一个测试接口(140)链，方法是通过使链(140)中前驱测试接口(140a)的TDO接触点(142a)与后继测试接口(140b)的TDI接触点(141b)相连。此外，在链(140)的开始处，为链(140)扩充边界扫描兼容的测试接口(160)，用于测试电子装置(100)的其它部分。链(140)中最末测试接口(140b)的TDO接触点(142b)以及测试接口(160)的TDO接触点(162)均与旁路多路复用器(102)相连，这样形成从测试数据输入(110)到测试数据输出(112)的两条可能的路径：贯穿全链(140、160)或只贯穿测试接口(160)。因此，电子装置(100)可以作为宏装置或子装置(120a，120b)的集合来加以测试或调试。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子装置(100)，它包括：多个子装置(120a，120b)；具有第一输入(103)、第二输入(104)和输出(106)的旁路多路复用器(102)；测试数据输入(110)；与所述旁路多路复用器(102)的所述输出(106)相连的测试数据输出(112)；多个测试接口(140a，140b，160)，包括：一组测试接口(140a，140b)，所述测试接口(140a，140b)组中的各测试接口(140a；140b)与所述多个子装置(120a，120b)中的一个子装置(120a；120b)相连，所述测试接口(140a，140b)组形成测试接口(140)链，因为：所述测试接口(140)链中的前驱测试接口(140a)的测试数据输出接触点(142a)与所述测试接口(140)链中的后继测试接口(140b)的测试数据输入接触点(141b)相连；以及与边界扫描兼容的附加测试接口(160)，用于控制所述旁路多路复用器(102)，所述附加测试接口(160)具有：与所述测试数据输入(110)相连的附加测试数据输入接触点(161)；以及与所述旁路多路复用器(102)的所述第一输入(103)相连的附加测试数据输出接触点(162)；所述电子装置的特征在于：所述测试接口(140)链中最末的测试接口(140b)的测试数据输出接触点(142b)与所述旁路多路复用器(102)的所述第二输入(104)相连；以及所述附加测试数据输出接触点(162)还与所述测试接口(140)链中第一测试接口(140a)的测试数据输入接触点(141a)相连。
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