[发明专利]电致发光器件的检漏方法和仪器无效
| 申请号： | 02812256.9 | 申请日： | 2002-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN1529820A | 公开（公告）日： | 2004-09-15 |
| 发明（设计）人： | A·J·G·曼克;P·范德维耶 | 申请（专利权）人： | 皇家菲利浦电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L51/20 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 胡强;杨松龄 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 描述一种通过电致发光有机物质的光致降解程度来检查有机电致发光器件中的氧泄漏的方法。由于出现氧而导致了电致发光有机物质的光致降解，并且通过比较在用光(如激光)照射该物质前后的物质的电致发光状况被检查出来。在一密封有机电致发光器件中的因有氧而导致的光致降解证实了器件出现泄漏，泄漏导致器件寿命缩短。本发明提供了在有机电致发光器件制造后立即快速、无破坏地检查其泄漏的方法。甚至可以在线识别并抛弃泄漏的器件。 | ||
| 搜索关键词： | 电致发光 器件 检漏 方法 仪器 | ||
【主权项】：
1、一种有至少一个有机发光二极管的电致发光器件的检漏方法，所述的至少一个LED被封装在一外壳内，所述方法涉及该LED材料的光致氧化。
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