[发明专利]相对第二磁元件定向第一磁元件磁化轴线的方法,用于获得传感器的半成品,用于测量磁场的传感器无效

专利信息
申请号: 02810895.7 申请日: 2002-05-29
公开(公告)号: CN1513120A 公开(公告)日: 2004-07-14
发明(设计)人: J·B·A·D·范宗;J·J·M·勒伊格罗克;C·吉贝勒 申请(专利权)人: 皇家菲利浦电子有限公司
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 苏娟;黄力行
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 相对第二磁元件(3)定向第一磁元件(2)磁化轴线的方法,其中第一元件(2)和第二元件(3)位于基底(1)上,磁元件中的每一个具有带磁化轴线(11)的第一磁层(10),所述方法包括这样的步骤,即将磁通量集中装置图样(20)布置在第一磁元件(2)附近,并随后在施加的磁场中定向所述第一磁元件(2)的磁化轴线(11)。用于获得测量磁场的传感器的半成品包括基底(1),在基底(1)是成桥式构造的第一磁元件(2),第二磁元件(3),第三磁元件(4)和第四磁元件(5),所述桥式构造在第一触点(6)和第二触点(7)之间包括第一桥部分(8)和第二桥部分(9),其中在第一桥部分(8)第一元件(2)和第二元件(3)电串联,在第二桥部分(9)第三元件(4)和第四元件(5)电串联。磁元件中的每一个包括具有磁化轴线(11)的第一磁层(10),第一桥部分(8)中元件(2,3)的第一磁层磁化轴线(11)以及第二桥部分(9)中元件(4,5)磁化轴线定向为以相反方向延伸。在每个触点(6,7)附近,第一桥部分(8)元件的磁化轴线(11)相对第二桥部分(9)的元件方向相反。对于第一桥部分(8)的第一磁元件(2)和具有和第一元件(2)相同磁化轴线(11)方向的第二桥部分(9)的元件存在磁通量集中装置(14)。为改善传感器的灵敏度,为每个磁元件提供了磁通量集中装置(14)。
搜索关键词: 相对 第二 元件 定向 第一 磁化 轴线 方法 用于 获得 传感器 半成品 测量 磁场
【主权项】:
1.相对第二磁元件(3)定向第一磁元件(2)磁化轴线的方法,其中第一磁元件(2)和第二磁元件(3)位于基底(1)上,每个磁元件(2,3)包括一个具有磁化轴线(11)的磁层(10),其特征在于,通过在至少第一磁元件(2)附近提供磁通量集中装置图样(20)并随后施加磁场,定向第一磁元件(2)磁层(10)的磁化轴线(11)。
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