[发明专利]积体磁阻半导体记忆排列无效

专利信息
申请号: 02808151.X 申请日: 2002-04-05
公开(公告)号: CN1502136A 公开(公告)日: 2004-06-02
发明(设计)人: P·维茨 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司
主分类号: H01L27/22 分类号: H01L27/22;//G11C11/15
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;张志醒
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明系关于一种积体磁阻半导体记忆排列,其中该MRAM记忆胞元(10)系位于埋入不同的,互相分离的线平面(1,2)之选择线(5,6)之交叉点上,且其中一读取/写入电流为了写入每一MRAM记忆胞元(10)及为了读取被写入其中之信息项目而被施加。在此积体磁阻半导体记忆排列中,用以读取一胞元信息项目之该选择线(5,6)系位于直接与该记忆胞元(10)接触之分离的第一及第二线平面(1,2),且由写入一胞元信息项目用之写入选择线(7,8)所占用之一第三及第四线平面(3,4)与该第一及第二线平面(3,4)空间分离及电性隔离。
搜索关键词: 磁阻 半导体 记忆 排列
【主权项】:
1.一种积体磁阻半导体记忆排列(MRAM),其中,该MRAM记忆胞元(10)系位于埋入不同的,互相分离的线平面(1,2)之选择线(5,6)之交叉点上,且其中一读取/写入电流为了写入每一MRAM记忆胞元(10)及为了读取被写入其中之信息项目而被施加,用以读取一胞元信息项目之该选择线(5,6)系位于直接与该记忆胞元(10)接触之分离的第一及第二线平面(1,2),提供一第三线平面(3,4),其与该第一及第二线平面(3,4)空间分离及电性隔离,并且由写入一胞元信息项目用之写入选择线(7,8)所占用,以及提供与该第一,第二及第三线平面分离及电性隔离并由写入选择线(8)占用之一额外的第四线平面(4)。
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