[发明专利]光学拾取装置以及记录和/或再现设备无效
| 申请号： | 02802877.5 | 申请日： | 2002-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN1473327A | 公开（公告）日： | 2004-02-04 |
| 发明（设计）人： | 齐藤公博;石本努 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09;G11B7/135 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马高平;杨梧 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种光学拾取装置，包括物镜(2)，物镜具有至少为1的数值孔径(NA)，并通过包括一个具有球形部分(1a)和平行于光盘(101)的表面(101a)的平面部分(1b)构成的固态浸没透镜(1)，该光学拾取装置探测反射光中的偏振状态正交于光盘表面与固态浸没透镜的平面部分之间的距离为零时获得的反射光的偏振状态的分量，该反射光是通过在光盘上反射入射到光盘上的光而获得的，并且该装置将探测到的光强度与光盘表面和固态浸没透镜之间的距离相关，由此精确探测光盘和固态浸没透镜之间的微小间隙。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 拾取 装置 以及 记录 再现 设备 | ||
【主权项】：
1.一种光学拾取装置，包括物镜，该物镜的数值孔径不小于1，具有由球形部分和平行于光学记录介质的表面的平面部分构成的固态浸没透镜，所述光学拾取装置包括：光源，用于发射预设偏振状态的光束，该光束通过所述物镜到达所述光学记录介质；以及光电探测器装置，用于探测从所述光学记录介质反射回来在如下偏振状态下的光分量，该偏振状态与光学记录介质的表面和固态浸没透镜平面部分之间的距离为零时存在的反射光的偏振状态相垂直； 由所述光电探测器装置探测的光强度与所述光学记录介质的表面和所述固态浸没透镜的所述平面部分之间的距离相关。
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