[实用新型]晶片测试设备无效
| 申请号: | 02243055.5 | 申请日: | 2002-07-30 |
| 公开(公告)号: | CN2570976Y | 公开(公告)日: | 2003-09-03 |
| 发明(设计)人: | 申请(专利权)人: | ||
| 主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 史欣耕 |
| 地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本实用新型有关于一种晶片测试机具。使性能好、效率高。由控制单元及显示幕直接置於机台顶端以缩小占用面积,且入料组可以快速横移座位以利转盘组及测试组等检修及故障排除;另外,转盘组前具有半圆状透明板组成的晶片容置室,可以有效供应晶片的长期待料,且大幅减少测试组及出料组的机构,能有效降低成本。用于晶片测试。 | ||
| 搜索关键词: | 晶片 测试 设备 | ||
【主权项】:
1、晶片测试设备,其包括:一机台、一入料装置、一转盘组、一测试组及一出料组,机台上设有斜板供组设转盘组及测试组;其特征在于:入料装置下有底板横置于滑轨内,滑轨后端组设一快拆机构,上有推杆,推杆连动压杆并以其固定底板,当向上离开对底板的压持,则整个入料装置呈左右移动状;转盘组内有绝缘材料制成的转盘,由机台内的动力源带动,于外框底端固设一透明板,形成半圆状容置空间,至两侧端缘分别设有左、右板片,左板片处设有毛刷轻触转盘,外框及内框间形成空间并露出转盘环列的等距离排列的供晶片落入测试的容置凹槽,透明板以螺杆螺入斜板上,内设有感测透明板内的晶片的高低感测器;测试组底座组设于斜板上,具有凸耳供枢接板架,板架上设有两支架,以分别组设第一、二测试探针,另设有螺杆,螺杆穿过板架与底座上的螺孔螺接,以固定整个测试组;出料组的弧板,利用定位孔供斜板上的定位销作定位组设,利用旋钮穿过孔洞螺入斜板的螺孔作牢固结合,弧板上有吹管恰与转盘的容置凹槽相对应,吹管接有导管并导入分类集中盆中。
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