[实用新型]转接测试装置无效
| 申请号: | 02231227.7 | 申请日: | 2002-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN2550844Y | 公开(公告)日: | 2003-05-14 |
| 发明(设计)人: | 詹益新;李光华 | 申请(专利权)人: | 神达电脑股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 王月珍 |
| 地址: | 台湾省新竹县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | 本实用新型涉及一种应用于主机板上CPU插槽的转接测试装置,可设计为一转接卡的形式,可应用在对主机板的测试过程中,以避免CPU在主机板间插拔而导致CPU的耗损,其中设置有一基板、第一连接部、第二连接部以及一测试部。该第一连接部可连接该基板与该主机板的CPU插槽;该第二连接部可容纳CPU的插置,第一连接部与第二连接部具相对应的电路连接关系;该测试部是具数个测试脚位并连接至该第二连接部,以对该CPU实施测试。 | ||
| 搜索关键词: | 转接 测试 装置 | ||
【主权项】:
1.一种转接测试装置,是应用于主机板中插CPU的CPU插槽中,其特征在于包括:一基板;一第一连接部,是具有若干个与所述的CPU的脚位数相同的公脚位,并可连接该基板与该主机板的CPU插槽;一第二连接部,是具有若干个与该CPU的脚位数相同的母脚位,该第二连接部可容纳该CPU的插置,所述的第一连接部的若干个公脚位与该第二连接部的若干个母脚位具有相对应的电路连接关系;一测试部,是具有数个测试脚位,该数个测试脚位相对连接至所述的第二连接部,以对所述的CPU实施测试。
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