[发明专利]制作热熔丝的方法有效

专利信息
申请号: 02158907.0 申请日: 2002-12-26
公开(公告)号: CN1467815A 公开(公告)日: 2004-01-14
发明(设计)人: 李秋德;吴德源 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/3205
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 陈红
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种制作热熔丝的方法,该半导体基底的表面至少定义有一热熔丝区域以及一焊垫压域,本发明方法先于该半导体基底表面依序形成一厚度约为12k的导电层以及一保护层,接着蚀刻该热熔丝区域上部分的该保护层以及该导电层,并使该热熔丝区域上的该导电层厚度剩约5k;最后再于该半导体基底表面形成一介电层,并蚀刻该焊垫区域上部分的该介电层以及该保护层,直至该导电层表面;本发明可在不增加任何金属沉积制程的情况下,同时于半导体晶片上制备较厚的铝焊垫以及较薄的热熔丝,以避免热熔丝在进行激光切割时,发生铝层太厚无法切断的情形,而且铝焊垫的厚度仍维持在原本金属层的厚度,故有效提高构装时良好的焊接性。
搜索关键词: 制作 热熔丝 方法
【主权项】:
1.一种于一基底之上制作导电层的方法,该基底表面定义有一第一区域以及一第二区域,其特征是:该方法包含有下列步骤:于该第一区域以及该第二区域上各形成至少一导电层;于该基底表面形成一第一介电层,并覆盖于各该导电层之上;去除位于该第一区域内部份的该第一介电层以及部份的该导电层,以使该第一区域内的该导电层剩余至一预定厚度;以及去除位于该第二区域内部份的该第一介电层,直至该导电层的表面。
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