[发明专利]一种透镜畸变参数的标定方法无效

专利信息
申请号: 02156701.8 申请日: 2002-12-17
公开(公告)号: CN1508527A 公开(公告)日: 2004-06-30
发明(设计)人: 张广军;贺俊吉;杨宪铭 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 中国航空专利中心 代理人: 梁瑞林
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于测量技术领域,涉及对透镜畸变参数标定方法的改进。本发明的标定步骤是:放置靶标-(2)拍摄靶标图象(3)获取特征点的坐标-计算特征点的交比值CR-获取xia,xib,xic,xid,yia,yib,yic,yid的表达式—求取畸变参数k1,k2。本发明方法算法简单,需要的已知条件少,容易实现,标定精度高,校正效果好。
搜索关键词: 一种 透镜 畸变 参数 标定 方法
【主权项】:
1、一种透镜畸变参数的标定方法,其特征在于,利用透视投影成像中交比不变原理来进行镜头畸变参数的标定,具体的步骤是:(1)放置靶标,在被标定的镜头前放置一个靶标,所使用的靶标为平面形靶标,要求靶标平面上的图案中至少有一条直线,该直线上至少有4个已知其间距的特征点;(2)拍摄靶标图象,由被标定镜头拍摄靶标的一幅图像,尽量使靶标图像充满画面;(3)获取特征点的坐标,在靶标图象中选择位于一条直线的至少4个特征点,使用图像处理算法,索贝尔(Sobel)算子,提取图像中有关的横向和纵向直线,然后计算这些横线和纵线的交叉点的坐标,最后得到位于同一条直线的至少4个特征点的坐标;(4)计算特征点的交比值CR,根据获取的位于同一直线上的4个特征点A、B、C、D的位置,和靶标图案的已知参数,利用下式:CR(A,B,C,D)=SR(A,B,C)SR(A,B,D)=ACBCBDAD---[1]]]>计算得到上述4个特征点的交比值CR;(5)获取xia,xib,xic,xid,yia,yib,yic,yid的表达式,利用前面获得的4个特征点A、B、C、D的图像坐标,分别记为A(xa,ya),B(xb,yb),C(xc,yc),D(xd,yd),代入下式:得到xia,xib,xic,xid,yia,yib,yic,yid的表达式,(xia,xib,xic,xid,yia,yib,yic,yid分别表示A、B、C、D四点的未经畸变的图像坐标(横坐标和纵坐标));(6)将上面得到的xia,xib,xic,xid,yia,yib,yic,yid和CR代入下式:得到两个关于畸变参数的k1,k2的一元二次方程,求解这两个方程,便得到畸变参数k1,k2的数值。
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