[发明专利]半导体封装及其制造方法有效
| 申请号: | 02146445.6 | 申请日: | 2002-11-07 |
| 公开(公告)号: | CN1417856A | 公开(公告)日: | 2003-05-14 |
| 发明(设计)人: | 饭岛隆广;六川昭雄 | 申请(专利权)人: | 新光电气工业株式会社 |
| 主分类号: | H01L23/12 | 分类号: | H01L23/12;H01L21/50;H05K3/46;H05K3/30 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 于静,段承恩 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 一种高频特性优越的半导体封装,能容易安装大尺寸的电容器,由此能够抑制电源电压的波动,并且能够减少连接电容器和连接端的布线部分的电感,即,一种半导体封装,安装有电容器用于抑制电源电压波动,其中在厚度方向中穿过板的安装孔中,电容器由以下组成一端连接到半导体芯片连接端的导线、以预定厚度覆盖导线的高介电常数材料、以及设置在高介电常数材料外周边和安装孔内壁之间的导体层,具有导线作为它的中心的同轴结构,并且提供一种半导体封装的制造方法。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体封装,安装有电容器用于抑制电源电压波动,其中在厚度方向中穿过板的安装孔中,电容器由以下组成:一端连接到半导体芯片连接端的导线、以预定厚度覆盖导线的高介电常数材料、以及设置在高介电常数材料外周边和安装孔内壁之间的导体层,具有导线作为它的中心的同轴结构。
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