[发明专利]基于动态光散射信号分形的颗粒测量方法及装置

摘要

本发明涉及一种基于动态光散射信号分形的颗粒测量方法及装置。装置由激光器、偏振片、透镜、样品池、小孔、滤光片、光探测器、光子计数卡和微机组成。方法为：由激光器、偏振片和透镜组成的入射光路产生聚焦的偏振光束照射到颗粒样品池中，样品池中的颗粒产生的散射光经小孔、滤光片进入光探测器，将散射光信号转换成TTL脉冲信号，由光子计数卡将脉冲信号读入微机内存，计算出所测信号的分形维数，根据分形维数与颗粒粒径的对应关系求出粒径。优点是：成本低、步骤简单、测量速度快。

主权项

1、基于动态光散射信号分形的颗粒测量方法，其特征在于，具体步骤为：(1)以激光器作为光源，照射到盛有颗粒的样品池内；(2)采用光电倍增管作为光探测器以90°的散射角连续测量散射光信号；(3)采用光子计数卡对光电倍增管输出的脉冲信号进行计数，并将计数值送入微机；微机根据所测的散射光波动信号求取该信号的分形特征值—分形维数D$D=\frac{\underset{i=0}{\overset{n}{\Sigma }}\left[\ln (\frac{1}{{\delta }_i}-\bar{\delta })\right][\ln \left(N\left({\delta }_i\right)\right)-\bar{N}]}{\underset{i=0}{\overset{n}{\Sigma }}{[\ln \left(\frac{1}{{\delta }_i}\right)-\bar{\delta }]}^2}$ 其中：$\bar{\delta }=\frac{1}{n+1}\underset{i=0}{\overset{n}{\Sigma }}\ln \left(\frac{1}{{\delta }_i}\right)$ $\bar{N}=\frac{1}{n+1}\underset{i=0}{\overset{n}{\Sigma }}\ln \left(N\left({\delta }_i\right)\right)$ δn＝2n；n＝0，1，2，…m＜r；i＝0，1，…n；N(δi)为δi与散射光光强波动曲线相交的个数。(4)根据分形维数的大小确定颗粒粒径。