[发明专利]薄膜热敏电阻及其阻值调节方法无效

专利信息
申请号: 02143926.5 申请日: 2002-09-28
公开(公告)号: CN1409329A 公开(公告)日: 2003-04-09
发明(设计)人: 伊藤谦治;田中靖崇;丰田直;田村正一 申请(专利权)人: 石塚电子株式会社
主分类号: H01C7/00 分类号: H01C7/00;H01C17/24
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在具有阻值调节用金属性图案的切割部的薄膜热敏电阻中,首先,通过调节第二热敏膜的膜厚来粗调阻值,然后通过用激光照射切削切割部来细调阻值。这样,可制造精确调节了阻值的薄膜热敏电阻。
搜索关键词: 薄膜 热敏电阻 及其 阻值 调节 方法
【主权项】:
1.薄膜热敏电阻,包括:绝缘衬底;绝缘涂层,形成在所述绝缘衬底的主平面上;一对梳状电极,相对地形成在绝缘涂层上;一对引出电极,与所述梳状电极对相连;金属性图案,从所述的一对引出电极中的至少一个上伸出,用于阻值调节,该金属性图案具有用于切削的切割部;热敏膜,覆盖在所述的梳状电极对之上以及切削用切割部的一部分之上;以及保护膜,覆盖在所述热敏膜上。
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