[发明专利]薄膜热敏电阻及其阻值调节方法无效
申请号: | 02143926.5 | 申请日: | 2002-09-28 |
公开(公告)号: | CN1409329A | 公开(公告)日: | 2003-04-09 |
发明(设计)人: | 伊藤谦治;田中靖崇;丰田直;田村正一 | 申请(专利权)人: | 石塚电子株式会社 |
主分类号: | H01C7/00 | 分类号: | H01C7/00;H01C17/24 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在具有阻值调节用金属性图案的切割部的薄膜热敏电阻中,首先,通过调节第二热敏膜的膜厚来粗调阻值,然后通过用激光照射切削切割部来细调阻值。这样,可制造精确调节了阻值的薄膜热敏电阻。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 热敏电阻 及其 阻值 调节 方法 | ||
【主权项】:
1.薄膜热敏电阻,包括:绝缘衬底;绝缘涂层,形成在所述绝缘衬底的主平面上;一对梳状电极,相对地形成在绝缘涂层上;一对引出电极,与所述梳状电极对相连;金属性图案,从所述的一对引出电极中的至少一个上伸出,用于阻值调节,该金属性图案具有用于切削的切割部;热敏膜,覆盖在所述的梳状电极对之上以及切削用切割部的一部分之上;以及保护膜,覆盖在所述热敏膜上。
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