[发明专利]应用于罩幕式只读存储器编码布植的微影工艺有效
| 申请号: | 02141382.7 | 申请日: | 2002-07-09 | 
| 公开(公告)号: | CN1467791A | 公开(公告)日: | 2004-01-14 | 
| 发明(设计)人: | 张庆裕 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 | 
| 主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;G03F7/00;H01L21/8246 | 
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王学强 | 
| 地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 | 
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| 摘要: | 一种应用于罩幕式只读存储器编码布植的微影工艺,其首先提供一基底,且基底上已形成有数个呈阵列排列的存储单元。接着,在基底上形成具有一第一线/间距图案的一负光阻层。继之,在负光阻层上形成具有一第二线/间距图案的一正光阻层。其中,负光阻层的第一线/间距图案与正光阻层第二线/间距图案的方向并不相同,且第一线/间距图案与该第二线/间距图案重叠后所共同暴露的一区域即为罩幕式只读存储器的一预定编码布植区。 | ||
| 搜索关键词: | 应用于 罩幕式 只读存储器 编码 工艺 | ||
【主权项】:
                1.一种应用于罩幕式只读存储器编码布植的微影工艺,包括:提供一基底,该基底上已形成有呈阵列排列的多个存储单元;在该基底上形成一第一光阻层,覆盖该些存储单元;进行一第一曝光工艺以及一第一显影工艺,以定义该第一光阻层形成一第一线/间距图案;在该第一光阻层上形成一第二光阻层;以及进行一第二曝光工艺以及一第二显影工艺,以定义该第二光阻层形成一第二线/间距图案,其特征是,该第一线/间距图案与该第二线/间距图案的方向并不相同,且该第一线/间距图案与该第二线/间距图案重叠后所共同暴露的一区域即为该罩幕式只读存储器的一编码布植区。
            
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                    H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
                
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