[发明专利]高精度电子天平的内校砝码校正的方法无效
| 申请号： | 02136279.3 | 申请日： | 2002-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN1472513A | 公开（公告）日： | 2004-02-04 |
| 发明（设计）人： | 田莉君;刘健;虞慧;蒋好锋 | 申请（专利权）人： | 上海民桥精密科学仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01G23/01 | 分类号： | G01G23/01 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200041上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高精度电子天平的内校砝码校正的方法，其步骤为：通过本天平称出内校砝码的重量值P1，并存入微机；在上述同一天平上称出一只名义值和上述内校砝码相同的标准砝码的重量P2，并存入微机；在微机内算出差值D，D＝P2－P1作为内校砝码的修正量；校正时引入D，使求得正确的校正系数K，存入微机。本方法简单方便，可使生产内校码过程中对内校码质量的准确性要求降低，降低生产成本，并能对已磨损、氧化造成珐码质量变化的内校砝码可方便地修正。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 电子天平 砝码 校正 方法 | ||
【主权项】：
1、一种高精度电子天平的内校砝码校正的方法，其方法步骤为：(1)通过本天平的称重系统称出内校砝码的重量值P1，并存入微机；(2)在上述同一天平上称出一只名义值和上述内校砝码相同的标准砝码的重量P2，并存入微机；(3)在微机内算出差值D，D＝P2-P1作为内校砝码的修正量；(4)根据公式：![]()
求得校正系数K，存入微机。
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