[发明专利]用于校正激光三维测量器的方法及装置无效

专利信息
申请号: 02132050.0 申请日: 2002-09-09
公开(公告)号: CN1482433A 公开(公告)日: 2004-03-17
发明(设计)人: 罗文秀;林明慧 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/26
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 楼仙英;陈红
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种用于校正激光三维测量器的方法及装置,其中,该装置包括一基准平面;一激光测量头,设置于该基准平面上,且可发出一激光平面;一校正机构,设置于该基准平面上,该校正机构包括一平面块规,平面块规上设置一校正平面;而校正方法是,该激光测量头发射激光平面并投射在该平面块规上,且该激光测量头可感测该反射的光线,并可得到一二维数字影像;此外,由于发射出的激光平面与该基准平面平行,并利用该平面块规在与基准平面平行的一平移轴上移动,以及该平面块规沿一与该基准平面垂直的旋转轴转动一已知角度,可建立由二维数字影像对应实际三维空间坐标的转换关系。
搜索关键词: 用于 校正 激光 三维 测量器 方法 装置
【主权项】:
1、一种校正激光三维测量器的方法,其特征在于,至少包括下列步骤:定义一由X轴、Y轴、Z轴所组成的三维空间垂直坐标系;提供一校正平面;将该校正平面沿着Z轴方向平移,建立测量所得的二维数字影像对应于Z轴向坐标值的对应关系;将该校正平面沿Y轴旋转一已知角度,并将上述校正平面沿着Z轴方向平移,利用先前所得的结果,建立测量所得的二维数字影像对应于该X轴方向坐标值的对应关系。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于财团法人工业技术研究院,未经财团法人工业技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02132050.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top