[发明专利]时间序列散斑场脉冲计数位移测量方法及其装置无效
| 申请号： | 02130913.2 | 申请日： | 2002-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN1401991A | 公开（公告）日： | 2003-03-12 |
| 发明（设计）人： | 李喜德;邓兵;陶刚 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45;G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种时间序列散斑场脉冲计数位移测量的方法和装置，属光电无损检测领域。本方法由下列步骤完成1.对被测物体首先通过双光束散斑干涉获得单调连续变化的序列散斑图；2.对所得的序列散斑图所对应的强度信号在时间域内进行滤波降噪、动态平均、偏移方波化和微分脉冲化处理获得相位函数的半波数；3.对序初相位主值区和序末相位主值区中所包含的序列余弦强度扫描计算，获得主值相位分布；4.将半波数和主值相位叠加获得位移场检测。本方法是一种无需载波和相移的检测方法，适用于被测物体动态、大位移全场检测。 | ||
| 搜索关键词： | 时间 序列 散斑场 脉冲 计数 位移 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种时间序列散斑场脉冲计数位移测量方法，其特征是按下列步骤进行：(1)对被测物体首先通过双光束散斑干涉获得单调连续变化的序列散斑图；(2)对所得的序列散斑图所对应的强度信号在时间域内进行滤波降噪、动态平均、偏移方波化和微分脉冲化处理获得相位函数的半波数；(3)对序初相位主值区(初始采样点到脉冲信号第一过零点所对应的序列采样点)和序末相位主值区(脉冲信号最后过零点所对应的序列采样点到序列最后采样点)中所包含的序列余弦强度扫描计算，获得主值相位分布；(4)将半波数和主值相位叠加即可完成位移场检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02130913.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
