[发明专利]可分离介质表层与深层信息的光学检测方法无效
| 申请号： | 02129271.X | 申请日： | 2002-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN1485605A | 公开（公告）日： | 2004-03-31 |
| 发明（设计）人： | 徐可欣;邱庆军;苏翼雄 | 申请（专利权）人： | 天津市先石光学技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/47;G01N21/55;A61B5/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人： | 王丽 |
| 地址： | 300072天津市南*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学检测方法，特别涉及一种可分离介质表层与深层信息的光学检测方法。为实现非接触测量奠定了基础。它是由光源经过一个入射单元照射在被测样品组织上，经过接收单元处理后，由检测器完成检测；测量系统可以实现介质表层与深层信息的分离；而且光学测头和被测样品组织是非接触的。在本发明中，入射单元和接收单元可以根据偏振法、挡光法、空间成像法、布儒斯特角法等不同的方法进行设置。 | ||
| 搜索关键词： | 可分离 介质 表层 深层 信息 光学 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种可分离介质表层与深层信息的光学检测方法，由光源经过一个入射单元照射在被测样品组织上，经过接收单元处理后，由检测器完成检测；其特征是：测量系统可以实现介质表层与深层信息的分离；而且光学测头和被测样品组织是非接触的。
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