[发明专利]系统级内存环境测试的方法及装置有效
| 申请号： | 02120863.8 | 申请日： | 2002-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN1464398A | 公开（公告）日： | 2003-12-31 |
| 发明（设计）人： | 吴雪丽;吴婧 | 申请（专利权）人： | 联想(北京)有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李云鹏 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种系统级内存环境测试的方法及装置，主控机控制被测对象操作环境的温度和电压，读取测试信息；该装置包括主控机、高低温老化箱、大功率电源和设置在被测对象上的电压监测端；该主控机与高低温老化箱连接并通信，控制该高低温老化箱的拉偏温度或停机；该主控机与大功率电源连接，控制该大功率电源向被测对象提供测试需要的拉偏电压；该主控机与被测对象连接，获取该被测对象反馈的电压数据，并控制该被测对象的开启或关闭；该被测对象至少包括被测主板及装设在该主板上的内存装置，该被测对象放置在高低温老化箱内，并与大功率电源连接以获得供电；本发明对内存运行环境进行改变，提供了严格的运行环境，验证了内存和系统的兼容性能。 | ||
| 搜索关键词： | 系统 内存 环境 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种系统级内存环境测试的方法，其特征在于：主控机对被测对象的操作环境(温度和电压)进行控制，同时读取被测试对象的运行状态信息。
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