[发明专利]球阵列式测试卡

摘要

本发明涉及一种球阵列式测试卡，包含一具有各自不同测试信号通道接触点的万用板，一具有多条导线的接触板，以及由多个丛区所组成的一插槽座，其中上述的每一丛区包含多个pogo探针，由于本发明可以直接对晶圆型态的封装元件进行测试，并在测试完成之后进行晶粒的切割，所以，本发明可以提升晶圆型态的封装元件的测试效率并降低测试成本。

主权项

1.一种球阵列式测试卡，其特征在于，该球阵列式测试卡包含：一万用板，其中该万用板包含多组测试信号通道接触点，用以传递一待测元件的一测试信号至一测试机，其中，该待测元件的表面具有多组测试点；一接触板，该接触板的表面装设多条导线，该等导线的一端分别与该万用板的一测试信号通道接触点耦合，该等导线的另一端在该接触板的表面形成多个接点；以及一第一插槽座，该第一插槽座的表面具有至少一第一丛区，其中该每一第一丛区由多个pogo探针所组成，该等pogo探针具有一连接端分别与该接触板的该等接点耦合，与一探测端分别与该待测元件表面的该等测试点耦合，使得该待测元件的一内部电路的该测试信号可以传送至该万用板的该等测试信号通道接触点，再经由该等测试信号通道接触点将该测试信号传至该测试机以进行测试。