[发明专利]一种分集衰落产生及应用方法无效

专利信息
申请号: 02112500.7 申请日: 2002-07-08
公开(公告)号: CN1467921A 公开(公告)日: 2004-01-14
发明(设计)人: 陈琪;梁永胜 申请(专利权)人: 深圳市中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04B7/02 分类号: H04B7/02;H04B7/26;H04Q7/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 广东省深圳市南山区高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种分集衰落产生及应用方法,包括如下步骤:(1)产生满足给定功率谱条件和瑞利分布的随机衰落X;(2)产生满足给定功率谱条件和瑞利分布的另一个完全独立的随机衰落Y;(3)将Y乘以一个小的扰动因子a,与X相加并且归一化得到Z,并且计算Z和X的相关系数;(4)判断相关系数与需要的相关系数之差是否大于给定误差e,如大于给定误差e,返回到步骤(2),直到步骤(3)计算出的相关系数满足给定的误差要求。这种分集衰落产生方法,可以产生任意相关系数的衰落数据,直接应用于检测分集算法仿真,既避免了实测,降低了开发成本,也可弥补ADS等软件工具在分集信道方面的缺陷,可应用到2G、3G中所有分集信道的仿真中。
搜索关键词: 一种 分集 衰落 产生 应用 方法
【主权项】:
1、一种分集衰落产生方法,其特征在于:包括以下步骤:(1.1)产生第一随机衰落X和第二随机衰落Y,使之分别满足给定的功率谱条件和瑞利分布;(1.2)将所述第二随机衰落Y乘以一个小的扰动因子a,与所述第一随机衰落X相加并且归一化得到Z,并且计算Z和X的相关系数;(1.3)判断计算出的所述相关系数与需要的相关系数之差是否大于给定的误差e,如果大于给定的误差e,回到步骤(1.2),否则输出产生的分集衰落X和Z。
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