[发明专利]绝缘子伞部的缺陷检测方法及装置无效
| 申请号: | 02107197.7 | 申请日: | 2002-03-15 |
| 公开(公告)号: | CN1375837A | 公开(公告)日: | 2002-10-23 |
| 发明(设计)人: | 福田修;乡治武 | 申请(专利权)人: | 日本碍子株式会社 |
| 主分类号: | H01B17/02 | 分类号: | H01B17/02;H01B19/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张天安,郑建晖 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 提供一种可使检测自动化,能以更高的精度进行伞部缺陷检测,且可以实现质量管理最佳化的绝缘子伞部的缺陷检测方法。通过从多个方向把规尺(5)插入到绝缘子(2)的伞部(2-1)与伞部(2-2)之间、在伞部上施加应力来检测伞部的缺陷。实施上述绝缘子伞部的缺陷检测方法的装置由以下部分构成安装待检查的绝缘子的底座(4);设置在底座上、可插入/拔出已安装好的绝缘子的伞部与伞部之间的多个规尺(5);设置在安装好的绝缘子上、求出加在伞部与伞部之间的应力用的应力检测机构(7);在控制规尺的动作,同时根据利用应力检测机构求出的加在伞部与伞部之间的应力检测出绝缘子伞部的缺陷的控制机构(8)。 | ||
| 搜索关键词: | 绝缘子 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种绝缘子伞部的缺陷检测方法,其特征为,通过从多个方向把规尺插入到绝缘子的伞部与伞部之间,对伞部施加应力,检测伞部的缺陷。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本碍子株式会社,未经日本碍子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02107197.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件的制造方法
- 下一篇:半导体存储装置





