[发明专利]形成微影制程的相偏移光罩的方法无效
| 申请号: | 02105559.9 | 申请日: | 2002-04-16 |
| 公开(公告)号: | CN1452009A | 公开(公告)日: | 2003-10-29 |
| 发明(设计)人: | 林心迪 | 申请(专利权)人: | 林心迪 |
| 主分类号: | G03F1/08 | 分类号: | G03F1/08;G03F7/26;G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李强 |
| 地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本发明为一种形成微影制程的相偏移光罩的方法,步骤为:提供一片已镀有反相层及不透光铬膜的石英玻璃基板;于所述不透光铬膜之上形成一层第一光阻层;利用电子束微影技术或激光扫描技术定义出反相层图案的位置;进行显影制程,再利用蚀刻技术对所述不透光铬膜进行蚀刻以形成第一铬图案,再将所述第一光阻层去除;对所述反相层进行蚀刻以形成反相层图案;形成第二光阻层;通过一片寄生光罩,运用半导体微影制程所使用的曝光机台进行曝光制程,以定义出第二铬图案的位置,并进行显影制程;以及对所述第一铬图案进行蚀刻,以形成第二铬图案;本发明第二次写入通过一片寄生光罩,利用低成本的曝光机台而取代习知的高成本且低产能的电子束微影技术或激光扫描技术,可大幅降低相偏移光罩的制造成本并增加产能。 | ||
| 搜索关键词: | 形成 微影制程 偏移 方法 | ||
【主权项】:
1.一种形成微影制程的相偏移光罩的方法,其特征是:包含下列步骤:提供一片已镀有反相层及不透光铬膜的石英玻璃基板;于所述不透光铬膜之上形成一层第一光阻层;利用电子束微影技术定义出反相层图案的位置;进行显影制程,再利用蚀刻技术对所述不透光铬膜进行蚀刻以形成第一铬图案,再将所述第一光阻层去除;对所述反相层进行蚀刻以形成反相层图案;形成第二光阻层;通过一片寄生光罩,运用半导体微影制程所使用的曝光机台进行曝光制程,以定义出第二铬图案的位置,并进行显影制程;以及对所述第一铬图案进行蚀刻,以形成第二铬图案。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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