[发明专利]半导体集成电路及其制备方法无效

专利信息
申请号: 02102570.3 申请日: 2002-01-29
公开(公告)号: CN1369912A 公开(公告)日: 2002-09-18
发明(设计)人: 谏田诚 申请(专利权)人: 夏普公司
主分类号: H01L23/50 分类号: H01L23/50;H01L21/60;H01L21/28;H01L21/768
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳,叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供一种半导体集成电路,它包括均匀高度的凸起电极。半导体集成电路包括半导体衬底(晶片),具有分别限定在正表面上的多个凸起电极形成区和凸起电极非形成区;第一电极焊盘,形成在凸起电极非形成区中;第二电极焊盘,形成在每个凸起电极形成区中;以及凸起电极,形成在每个第二电极焊盘上;其中在利用电镀形成凸起电极中第一电极焊盘用于将电镀电流经过半导体衬底供给第二电极焊盘。
搜索关键词: 半导体 集成电路 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种半导体集成电路,包括:半导体衬底,具有分别限定在其正表面上的多个凸起电极形成区和凸起电极非形成区;第一电极焊盘,形成在凸起电极非形成区中;第二电极焊盘,形成在每个凸起电极形成区中;以及凸起电极,形成在每个第二电极焊盘上;其中在利用电镀形成凸起电极中第一电极焊盘用于将电镀电流经过半导体衬底供给第二电极焊盘。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普公司,未经夏普公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02102570.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top