[发明专利]利用镶嵌制程形成金属电容器的方法及其产品有效
| 申请号: | 02100315.7 | 申请日: | 2002-01-07 |
| 公开(公告)号: | CN1402326A | 公开(公告)日: | 2003-03-12 |
| 发明(设计)人: | 徐震球;李世达 | 申请(专利权)人: | 矽统科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/70 | 分类号: | H01L21/70;H01L21/31;H01L21/3205;H01L21/28 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘朝华 |
| 地址: | 台湾省新*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | 一种利用镶嵌制程形成金属电容器的方法及其产品,于形成金属薄膜电容器之前,先利用铜金属镶嵌制程来制作其下的内连线,之后沉积一层绝缘层,并于其中形成开口,接着依序沉积顺应性的第一金属层、介电层和第二金属层,再进行化学机械研磨制程,将开口外多余的第一金属层、介电层和第二金属层磨除,直至暴露出其下方的绝缘层为止,即于开口中形成电容器。在完成电容器之后,继续利用铜金属镶嵌制程来制作其上的内连线。具有内含电容器的积体电路的尺寸可以容易地达成缩小化、降低所需的微影蚀刻步骤、降低制造内含电容器的积体电路的制造成本及降低电容器区域和非电容器区域之间的高度落差的功效。 | ||
| 搜索关键词: | 利用 镶嵌 形成 金属 电容器 方法 及其 产品 | ||
【主权项】:
1、一种利用镶嵌制程形成金属电容器的方法,其特征是:它至少包括如下步骤:(1)提供第一绝缘层;(2)于该第一绝缘层中形成第一铜导线和第二铜导线;(3)至少于该第一和第二铜导线上形成第一密封层;(4)于该第一密封层上形成第二绝缘层;(5)于该第二绝缘层和第一密封层中形成一开口,暴露出该第一铜导线;(6)于该开口中顺应性形成第一金属层;(7)于该第一金属层上顺应性形成介电层;(8)于该介电层上顺应性形成第二金属层;(9)移除该第一金属层、该介电层和该第二金属层至暴露出该第二绝缘层;(10)于该第二绝缘层和该第二金属层上形成第三绝缘层;(11)于该第三绝缘层和该第二绝缘层中形成多数个双镶嵌图案,该双镶嵌图案包含多数个沟槽和多数个介层窗孔;(12)于该沟槽中形成第三铜导线和第四铜导线,以及于该介层窗孔中形成第三、一铜插塞和第四、二铜插塞,其中该第一金属层经由该第三、一铜插塞与该第三铜导线电性连接,该第四铜插塞经由该第四、二铜插塞与该第二铜导线电性连接;(13)至少于该第三和第四铜导线上形成第二密封层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





