[实用新型]集成电路IC单颗芯片测试机

摘要

集成电路(IC)单颗芯片测试机,属于IC测试设备领域,主要解决在集成电路封装前,对单颗芯片进行测试,该机须保证单颗芯片定位装片位置准确可靠,测试传递动作精确,能通过模拟集成电路的工作状态测试参数,测量力能控制在一定范围内;机械部分具有机座1及相应的工作台以及传递定位的相应装置和调节机构;电路部分具有以中央处理器13为核心的软、硬件和相应总线的测试系统,并有相应的显示设备19和22,能按预先编好的程序、检测规程,对被测单颗芯片进行测试;有益之处为即可复核整个圆盘测试的准确性,又能提高集成电路封装后的良率,从而降低成本,提高效率,并进一步提高产品质量。

主权项

1、集成电路IC单颗芯片测试机，包括两大部分：一是机械部分：具有机座(1)、传递机构、工作台、测试部件和调控机构；二是电路部分：以中央处理器(CPU)(13)为核心的测试系统，两部分之间通过数据电缆(5)系统总线相互连通，其特征在于：机械部分中，机座(1)上装有芯片工作台(2)、带定位块的活动头(3)，该头上还装有带探针的测试卡(4)，并与数据电缆(5)接通；电路部分中，测试系统内还具有：程序存储器(14)、地址锁存器(15)、地址驱动器(16)、数据驱动器(17)、数据存储器(18)、一次显示设备(19)、二次显示设备(20)和启动开关(22)、控制键(21)以及相应的I/O通道——即系统总线。