[发明专利]一种锡波接触时间的测试装置及其方法无效
| 申请号： | 01145245.5 | 申请日： | 2001-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN1429061A | 公开（公告）日： | 2003-07-09 |
| 发明（设计）人： | 唐卫东;刘桑;李亮;陈松柏 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H05K3/00 | 分类号： | H05K3/00;H05K3/34 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种锡波接触时间的测试装置及其方法，其关键在于：在所要测试的印刷电路板(PCB)上加上焊盘，并在垂直于该具有焊盘的PCB传送方向上排布一排插针，插针的引脚用导线两两电气连接，或者直接用导线将PCB传送方向上对应于通孔的焊盘两两电气连接，将印刷电路板进入波峰焊状态，此时互联的引脚(或焊盘)通过锡波电路导通，外接的时间测量装置记录该导通时间就得到锡波接触时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 时间 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种锡波接触时间的测试装置，包括印刷电路板、用于将该印刷电路板传送方向上的通孔两两电气连接的导线、和连接于两电气连接的通孔之间的时间测量装置，其特征在于：该印刷电路板上具有焊盘。
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