[发明专利]多阶NROM的存储单元及其操作方法有效

专利信息
申请号: 01134625.6 申请日: 2001-11-07
公开(公告)号: CN1417862A 公开(公告)日: 2003-05-14
发明(设计)人: 黄俊仁;周铭宏 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105
代理公司: 北京集佳专利商标事务所 代理人: 王学强
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种多阶(Multi-Level)NROM的存储单元及其操作方法,其可形成一氮化物层,此氮化物层可以陷入数个电荷以形成数个电荷陷入区域,这些电荷陷入区域可以储存这些电荷以做为存储用的位,多阶NROM的存储单元包括一第一位、一第二位。其中,在第二位储存这些电荷以形成一电位障,此电位障影响所读到的第一位的一临限电压位阶的大小,通过改变电位障的大小来设定临限电压位阶的大小,只须以固定的偏压,单边读取第一位的临限电压位阶的大小,便可定义多阶NROM的存储单元的不同的存储状态。
搜索关键词: 多阶 nrom 存储 单元 及其 操作方法
【主权项】:
1.一种多阶NROM的存储单元,其特征在于:其可形成一氮化物层,该氮化物层可以陷入数个电荷以形成数个电荷陷入区域,该些电荷陷入区域可以储存该些电荷以做为存储用的位,多阶NROM的存储单元包括:一第一位;一第二位;其中,在该第二位储存该些电荷以形成一电位障,该电位障影响所读到的该第一位的一临限电流位阶的大小,通过改变该电位障的大小来设定该临限电流位阶的大小,并以该临限电流位阶的大小定义多阶NROM的存储单元的不同的存储状态。
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