[发明专利]在铜内连线上形成选择性保护层的方法无效

专利信息
申请号: 01130737.4 申请日: 2001-08-22
公开(公告)号: CN1402332A 公开(公告)日: 2003-03-12
发明(设计)人: 李世达;徐震球 申请(专利权)人: 矽统科技股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/321
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 刘朝华
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种在铜内连线上形成选择性保护层的方法,适用于镶嵌式铜制程中使用,首先将一铜金属层沉积在介电层上,并填满介电层中既有的内连线沟槽,以含有有机铝化合物的研磨剂进行化学机械研磨,将多余的铜金属层去除,此有机铝化合物经过回火程序后,与底下的铜反应,而选择性地在铜内连线上形成铝-铜合金,将铝-铜合金氧化后,便形成氧化铝保护层贴覆在铜内连线表面上。使保护层选择性地只形成在铜内连线表面上,通过在铜内连线上形成选择性封盖层,达到所形成的封盖层可以有效防止铜氧化化与扩散的功效。
搜索关键词: 铜内连 线上 形成 选择性 保护层 方法
【主权项】:
1、一种在铜内连线上形成选择性保护层的方法,其特征是:它至少包含下列步骤:(1)提供一半导体基底;(2)形成一具有内连线沟槽的介电层于该半导体基底上;(3)沉积一铜金属层于该介电层上,且填满该内连线沟槽;(4)以化学机械研磨程序研磨该铜金属层直到露出该介电层的上表面,以在该内连线沟槽中定义出铜内连线,其中该研磨程序于该铜内连线上留下一有机铝化合物,其经由回火程序与铜反应成铝一铜合金;(5)对该半导体基底进行一回火程序,以在该铜内连线上形成铝一铜合金;(6)氧化该铝一铜合金,以形成氧化铝保护层贴覆该铜内连线上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于矽统科技股份有限公司,未经矽统科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01130737.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top