[发明专利]在铜内连线上形成选择性保护层的方法无效
| 申请号: | 01130737.4 | 申请日: | 2001-08-22 |
| 公开(公告)号: | CN1402332A | 公开(公告)日: | 2003-03-12 |
| 发明(设计)人: | 李世达;徐震球 | 申请(专利权)人: | 矽统科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/321 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘朝华 |
| 地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | 一种在铜内连线上形成选择性保护层的方法,适用于镶嵌式铜制程中使用,首先将一铜金属层沉积在介电层上,并填满介电层中既有的内连线沟槽,以含有有机铝化合物的研磨剂进行化学机械研磨,将多余的铜金属层去除,此有机铝化合物经过回火程序后,与底下的铜反应,而选择性地在铜内连线上形成铝-铜合金,将铝-铜合金氧化后,便形成氧化铝保护层贴覆在铜内连线表面上。使保护层选择性地只形成在铜内连线表面上,通过在铜内连线上形成选择性封盖层,达到所形成的封盖层可以有效防止铜氧化化与扩散的功效。 | ||
| 搜索关键词: | 铜内连 线上 形成 选择性 保护层 方法 | ||
【主权项】:
1、一种在铜内连线上形成选择性保护层的方法,其特征是:它至少包含下列步骤:(1)提供一半导体基底;(2)形成一具有内连线沟槽的介电层于该半导体基底上;(3)沉积一铜金属层于该介电层上,且填满该内连线沟槽;(4)以化学机械研磨程序研磨该铜金属层直到露出该介电层的上表面,以在该内连线沟槽中定义出铜内连线,其中该研磨程序于该铜内连线上留下一有机铝化合物,其经由回火程序与铜反应成铝一铜合金;(5)对该半导体基底进行一回火程序,以在该铜内连线上形成铝一铜合金;(6)氧化该铝一铜合金,以形成氧化铝保护层贴覆该铜内连线上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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