[发明专利]铸件内部缺陷自动分析识别装置及其分析识别方法无效

专利信息
申请号: 01127801.3 申请日: 2001-09-03
公开(公告)号: CN1140797C 公开(公告)日: 2004-03-03
发明(设计)人: 黄茜 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G06K9/00
代理公司: 广州粤高专利代理有限公司 代理人: 李卫东
地址: 51064*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明是铸件内部缺陷自动分析识别装置及其分析识别方法。装置由显示屏、机壳及面板、连接电缆、电源开关、多种功能键、电路板连接构成,连接关系:电路板装于机壳内,电源开关及功能键装于面板并分别与电路板相应点连接;其电路由A/D转换电路、数字信号处理器、同步随机存取存储器、可编程只读存储器、地址译码及片选控制器、串行接口电路、液晶显示输出电路通过电源线、各自信号线连接构成。本发明能实时分析、识别铸件内部缺陷、准确、可靠、效率高,克服和解决了现有技术存在的缺点和问题。
搜索关键词: 铸件 内部 缺陷 自动 分析 识别 装置 及其 方法
【主权项】:
1、一种铸件内部缺陷自动分析识别装置,其特征在于:它由液晶显示屏(1)、机壳及面板(2)、连接电缆(3)、电源开关(4)、功能键(5)、(6)、(7)、电路板共同安装连接构成,其相互位置及连接关系为:电路板固定安装于机壳(2)内,液晶显示屏(1)装于机壳的面板(2)上并通过显示信号线与电路板上液晶显示输出电路相应点相电气连接;电源开关(4)及功能键(5)、(6)、(7)分别安装于机壳的面板(2)下部并分别通过电源线、各功能信号线分别与电路板上电源端、各相应功能电路相应点相电气连接;连接电缆(3)的一端穿过机壳(2)侧面预留的孔与电路板上连接集成电路IC1的电容C1相连接,其另一端与X光机或CT层面扫描仪相应通信信号输出端相连接;在线图象信号处理电路由A/D转换电路、数字信号处理器、同步随机存取存储器、可编程只读存储器、地址译码及片选控制器、串行接口电路、液晶显示输出电路共同电气连接构成,其相互连接关系为:A/D转换电路分别通过模拟信号线、数字信号线分别与X光机或CT层面扫描仪、数字信号处理器相电气连接;数字信号处理器分别通过同步存取信号线、可编程存储信号线、译码及控制信号线、串行接口信号线分别与同步随机存取存储器、可编程只读存储器、地址译码及片选控制器、串行接口电路相电气连接;地址译码及片选控制器通过译码及控制信号线分别与同步随机存取存储器、可编程只读存储器相电气连接;串行接口电路通过显示信号线与液晶显示输出电路相电气连接。
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