[发明专利]用于半导体集成电路的熔丝电路无效
| 申请号： | 01125570.6 | 申请日： | 2001-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN1349259A | 公开（公告）日： | 2002-05-15 |
| 发明（设计）人： | 郑苍焕;金殷汉 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H01L23/58 | 分类号： | H01L23/58;H01L23/62;H01L27/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王志森 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在半导体集成电路中含有可编程熔丝的熔丝电路中,熔丝记忆关于半导体集成电路的特定信息,如冗余信息,晶片批号,芯片批号和芯片在晶片中的位置等。常规的半导体集成电路使用用于存储一比特的特定信息的单个熔丝,本发明的熔丝电路使用用于存储相同比特的信息的多个熔丝。在一个熔丝未能正确地切断情况下,本发明的熔丝电路可以降低编程的缺陷,因而明显地减少缺陷生成率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体 集成电路 电路 | ||
【主权项】：
1.一种用于半导体集成电路的熔丝电路，包括：多个熔丝；和多个用于响应于熔丝的状态传送信号的传输电路。
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