[发明专利]自动设定集成电路晶片操作频率的装置及方法无效
| 申请号： | 01124280.9 | 申请日： | 2001-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN1402324A | 公开（公告）日： | 2003-03-12 |
| 发明（设计）人： | 黄鸿儒;涂俊安;白宏达 | 申请（专利权）人： | 矽统科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/70 | 分类号： | H01L21/70;H01L21/66;H01L27/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 台湾省新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动设定集成电路晶片操作频率的装置及方法，该集成电路晶片具有一内建自我测试(built－inself－test，BIST)单元使IC晶片能做自我测试；该装置包括一时脉产生器以及一频率决定单元；时脉产生器提供一测试时脉给IC晶片，频率决定单元则用以设定时脉产生器产生测试时脉，并且依据BIST单元所产生的测试结果来设定操作频率；频率决定单元亦能控制BIST单元以测试IC晶片，并根据上述测试结果调整一测试频率值，同时设定时脉产生器产生对应于该调整过的测试频率值的测试时脉；因此，本发明装置可决定一通过内建自我测试的最高频率并且设定此频率为IC晶片的操作频率。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 设定 集成电路 晶片 操作 频率 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动设定集成电路(IntegratedCircuit，以下简称IC)晶片操作频率的装置，其特征是：它至少包含：一内建自我测试(built-inself-test，以下简称BIST)单元，用以依据一测试条件测试该IC晶片并产生一测试结果；一时脉产生器，用以提供一测试时脉给该IC晶片；以及一频率决定单元，用以设定该时脉产生器产生该测试时脉，并且依据该测试结果来设定该IC晶片的操作频率。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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