[发明专利]制造加速度检测元件的方法无效
| 申请号： | 01119733.1 | 申请日： | 1995-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN1142437C | 公开（公告）日： | 2004-03-17 |
| 发明（设计）人： | 多保田纯;宇波俊彦;井上二郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01P15/08 | 分类号： | G01P15/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 刘晓峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种制造加速度检测元件的方法，包含的步骤是：制备两个呈矩形片状且由压电陶瓷制的半成品片；沿第一个半成品片的第一表面的纵向将导电糊敷在中央位置和端部位置，借此形成各自的内部电极图形结构；将第二个半成品片的第一面层叠在第一半成品片的第一面上，在该第一半成品片上已经形成内部电极图形结构；通过烘焙处理进行烘焙，以便同时形成内部电极和压电陶瓷元件主体；在压电陶瓷元件主体的第二主表面上敷以导电糊之后，通过烘焙处理形成信号输出电极；以及，通过利用各信号输出电极和各内部电极，使压电陶瓷元件主体的中央部分和端部部分产生极化。 | ||
| 搜索关键词： | 制造 加速度 检测 元件 方法 | ||
【主权项】：
1.一种制造加速度检测元件的方法，包含的步骤是：制备两个呈矩形片状且由压电陶瓷制的半成品片；沿第一个半成品片的第一表面的纵向将导电糊敷在中央位置和端部位置，借此在对应于每一压电陶瓷元件主体的中央位置和端部位置形成内部电极图形结构；将第二个半成品片的第一面层叠在第一半成品片的第一面上，在该第一半成品片上已经形成内部电极图形结构；通过烘焙处理进行烘焙，以便同时形成内部电极和压电陶瓷元件主体；在压电陶瓷元件主体的第二主表面上敷以导电糊之后，通过烘焙处理形成信号输出电极；以及通过利用各信号输出电极和各内部电极，使压电陶瓷元件主体的中央部分和端部部分产生极化。
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