[发明专利]检验光盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备有效
| 申请号： | 01112398.2 | 申请日： | 2001-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN1323034A | 公开（公告）日： | 2001-11-21 |
| 发明（设计）人： | 高祯完;郑铉权 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B20/12;G11B7/00 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于检验在不进行认证的情况下执行初始化时光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法及执行该方法的测试设备。该方法包括产生缺陷管理信息作为测试信息,该信息是在对其上未写入数据的空白测试盘在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的;和使用用于在不进行认证的情况下执行初始化的基准测试信息来检验测试信息,以提供测试结果。因此,可容易地采用空白测试盘来检验记录和再现设备是否正确地翻译和处理在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的DMA信息。 | ||
| 搜索关键词： | 检验 光盘 缺陷 管理区 信息 方法 执行 测试 设备 | ||
【主权项】：
1、一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的光盘上记录信息或从该光盘再现信息的记录和再现设备中是否正确地产生或更新DMA信息的方法，该方法包括下列步骤：产生缺陷管理信息作为测试信息，该信息是在对其上未写入数据的空白测试盘在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的；和使用用于在不进行认证的情况下执行初始化的基准测试信息来检验测试信息，以提供测试结果。
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