[发明专利]非挥发性存储单元装置及其操作方法和制造方法无效

专利信息
申请号: 01110713.8 申请日: 2001-04-13
公开(公告)号: CN1381896A 公开(公告)日: 2002-11-27
发明(设计)人: 坎兹R·华德;潘詹绥;马育耶 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;G11C16/02
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 程伟
地址: 中国*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种非挥发性存储单元装置及其操作方法,一负值电压致动此单元的选取栅端点,擦除效能明显地改善。提供三个重叠信号送入单元端点,其中两信号为负值,一信号为正值。在另一实施例中,存储单元设于P型基底上隔离N井中一内部P井上。调整存储单元本体电位方式,以四个重叠信号进行擦除模式,其中两信号为正值,两信号为负值,两相反极性的最大擦除电压达到“振幅平衡”,维持擦除速率仅需适当电压,可减缓对应芯片电压泵汲及驱动电路的要求。
搜索关键词: 挥发性 存储 单元 装置 及其 操作方法 制造 方法
【主权项】:
1.一种非挥发性存储单元装置,其特征是:包括:一非挥发性存储单元,包括:一源极区与一漏极区,位于一半导体基底中,且其间具有一沟道区;一浮置栅,位于该沟道区上但与该沟道区的一第一部份隔离;一控制栅,位于该浮置栅上但与该浮置栅隔离;以及一选取栅,位于该控制栅上但与该控制栅隔离,该选取栅延伸于该沟道区域的剩余部分,但与之相隔离;以及一电供应源,在该浮置栅上擦除电荷期间用以供应负值电压至该选取栅。
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