[发明专利]测量液晶层厚度的方法和装置及导出角度和导出波长的装置

摘要

本发明揭示一种测量厚度的方法，利用反射光的特征来测量液晶层(11)的厚度，其中，当满足偏振平面保持条件时，光返回保持与在入射时刻的偏振平面相同的偏振平面，其中，反射光的寻常光线和异常光线之间的光程差是波长的整数倍和半波长的和，或波长的整数倍，以得出满足偏振平面保持条件处的波长。从而得出合理的Δn·d。对多个波长执行该方法以得到波长和Δn·d之间的关系表达式。把波长λ和Δn的已知组合赋予关系表达式以得到d。

主权项

1.在反射型液晶显示元件中 一种测量液晶层厚度d的方法，所述液晶层具有经排列处理的上表面和下表面以及在厚度方向上一致的双折射率Δn，所述反射型液晶显示元件包括在一对衬底之间的所述液晶层，并具有所述一个衬底的至少一部分中的反射区域，其特征在于，所述方法包括下列步骤：光接收步骤，通过第一偏振单元把光从光源入射到所述液晶层，并通过第二偏振单元接收通过在所述反射区域的反射从液晶层射出的反射光；色散步骤，对通过光接收单元接收的反射光进行光谱分析，以检测波长λ和反射光强度之间的关系；波长导出步骤，发现满足偏振平面保持条件的波长，在所述条件中，反射光返回保持与射入时刻的偏振平面相同的偏振平面，即，经反射光的寻常光线和非常光线之间的光程差是波长的整数倍和半波长的和，或波长的整数倍；Δn·d导出步骤，从所述波长导出步骤得到的波长和所述液晶层的已知扭曲角来得出合理的Δn·d，以从波长和Δn·d的多个组合得出波长和Δn·d之间的关系；以及厚度导出步骤，通过把已知的波长λ和Δn的组合赋予所述关系而得出d；在所述Δn·d导出步骤中使用琼斯矩阵；当等式1为α＝Δn·dπ/Θλ和等式2为$\beta =\Theta \sqrt{(1+{\alpha }^2)}$ 时，β/π是n或n+1/2的情况中，从当保持反射光的偏振平面时的波长λ、所述液晶层的已知扭曲角Θ、和所述等式1和2得出β/π的合理的值，从所得到的β/π值通过计算，得出波长和Δn·d之间的关系，其中n是整数。