[发明专利]射线照相的方法与装置和辐射检测器无效

专利信息
申请号: 00817944.1 申请日: 2000-10-27
公开(公告)号: CN1415076A 公开(公告)日: 2003-04-30
发明(设计)人: 汤姆·弗兰克;克里斯特·乌尔博格;朱哈·兰坦恩 申请(专利权)人: 埃克斯康特尔股份公司
主分类号: G01T1/185 分类号: G01T1/185;H01J47/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 瑞典丹*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于射线照相的方法和装置及检测入射射线的检测器。在本方法和装置中,X-射线(9)从X-射线源(60)发射。与成像物体(62)干涉的所述X-射线在检测器(64)中被检测。检测入射射线的检测器(64)为一个气体雪崩室,包括在其间施加电压来产生电场的电极配置,此电场导致被入射射线释放的一次和二次离子化电子的电子-离子雪崩。检测器检测至少两个检测器电极模块中的电信号,所述电信号由电子-离子雪崩感生,多个检测器电极元件中至少一个彼此相邻布置,每个沿着基本平行于入射射线的方向,在至少两个独立检测器电极模块布置成彼此紧密接近的地方,每个沿着基本平行于入射射线的方向。
搜索关键词: 射线 照相 方法 装置 辐射 检测器
【主权项】:
1.一种获得射线照相图象的方法包括步骤-从X-射线源发射X-射线-在包括电极配置,其间施加产生电场的电压的气体雪崩检测器内,检测与成像物体干涉的X-射线,其特征在于:-在至少两个检测器电极模块内检测电信号,上述电信号由电子-离子雪崩感生,在彼此相邻布置的多个检测器电极元件的至少一个内,每个沿着基本平行于入射射线的方向,而在至少两个独立检测器电极模块被彼此紧密相邻布置处,每个沿着基本平行于入射射线的方向。
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