[发明专利]抗反射涂层之氢化无效
申请号: | 00817926.3 | 申请日: | 2000-12-19 |
公开(公告)号: | CN1420943A | 公开(公告)日: | 2003-05-28 |
发明(设计)人: | F·E·伍达得 | 申请(专利权)人: | 南壁技术股份有限公司 |
主分类号: | C23C14/00 | 分类号: | C23C14/00;C23C14/32;B32B17/00;B32B18/00;B32B3/00;B32B7/00;B32B7/02;B32B19/00;B32B9/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 周承泽 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 形成一种包括中折射率材料、高折射率材料、及低折射率材料之连续层的多层抗反射涂层。中折射率层经氢化,以将材料的折射率调整至低于1.99,及提高透射的清晰度。氢原子浓度为至少7%较佳,超过9%更佳,及超过18%最佳。此三层结合形成三层抗反射涂层,但可于具有更多或更少层数的抗反射涂层中使用氢化。在使用时,中折射率层为最靠近需要抗反射的基材。中折射率层为由氧化铟、氧化锡或氧化锌,或其中铟、锡或锌为主成份的合金的氧化物所形成较佳。 | ||
搜索关键词: | 反射 涂层 氢化 | ||
【主权项】:
1.一种形成抗反射涂层的方法,包括下列步骤:提供具有第一表面的基材;形成最接近该第一表面的氢化第一层,包括选择该氢化第一层,使包括具有铟、锡及锌中至少一种的基本上透明的金属氧化物,还包括将氢故意引入至所述金属氧化物内,使所述氢化第一层具有低于1.99的折射率;在所述氢化第一层上形成高折射率第二层,该第二层基本上为透明;及在所述第二层上形成低折射率的第三层,该第三层基本上为透明。
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