[发明专利]用于提供集成电路独特识别码的系统及方法无效
申请号: | 00806117.3 | 申请日: | 2000-02-11 |
公开(公告)号: | CN1155909C | 公开(公告)日: | 2004-06-30 |
发明(设计)人: | K·洛夫斯隆 | 申请(专利权)人: | ICID公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G06F17/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程伟;彭益群 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种结合在一个集成电路(IC)(40)之中的集成电路识别装置(ICID)(38),该装置包含电子单元阵列(46),其中,每个单元的输出信号的大小是随单元不同而改变的随机产生参数变量的函数。该ICID(38)还包括测量电路(50),其用以测量每个单元的输出及产生输出数据,该输出数据具有反映该阵列(46)所有元件的测量特性的特定组合值。当该阵列(46)中的元件数目够大时,将确保下列事项具有高度的机率:对于埋入任何一个IC(40)中的ICID(38)而言,被测量的阵列单元特性的样式在埋入其他数百万个IC(40)的ICID(38)所测量的样式中是独特且可区别的。因此,由该ICID(38)所产生的输出数据的值是可作为其所设置的IC(40)的独特“指纹”,且能够被作为该IC(40)的独特识别码(ID)来使用。 | ||
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【主权项】:
1、一种设置在一个集成电路上的集成电路识别装置,其用以产生一个识别码来识别设置所述识别装置的集成电路,其特征在于所述识别装置包含:多个识别单元,其形成于集成电路之内,所述每一个识别单元具有一个为集成电路中的随机参数变量的函数的输出;及测量装置,其用以监测所述多个识别单元的输出,且用以产生识别码作为响应,其中,所述识别码也是集成电路中的随机参数变量的函数。
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