[实用新型]电子晶体测试头无效
| 申请号： | 00258993.1 | 申请日： | 2000-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN2449239Y | 公开（公告）日： | 2001-09-19 |
| 发明（设计）人： | 刘革奇;吴立勤 | 申请（专利权）人： | 港科电子(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市专利服务中心 | 代理人： | 王雄杰 |
| 地址： | 518029 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种电子测试装置,特别是一种电子晶体测试头,其特征在于它包括一个设于底座上的移动板,在移动板的一端连接一测试片压板底板,一个压板连接在测试片压板底板的另一端;定位板底座垂直于底板且设有凹槽,标准测试板由螺钉固定在定位板底座的垂直面上;定位板设在定位板底座的顶部,定位板底座上连接有一个外接负载板。本实用新型结测试精确度高,测试片更换容易,可用同一测试头实现两种测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 晶体 测试 | ||
【主权项】：
1、一种电子晶体测试头，它包括一个底座(1)、一个定位板(9)、一个标准测试板(14)和测试片(19)，其特征在于它还包括一个设于底座(1)上的移动板(2)，在移动板(2)的一端连接一测试片压板底板(6)，一个压板(8)连接在测试片压板底板(6)的另一端，；所述的定位板底座(12)垂直设置在底板(1)的一端且在定位板底座(12)上设有凹槽(10)，所述的标准测试板(14)由螺钉固定在定位板底座(12)的垂直面上；所述定位板(9)设在定位板底座(12)的顶部，在所述定位板(9)上还设有晶体插孔(16)；在所述的定位板底座(12)上连接有一个外接负载板(20)。
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