[发明专利]无晶片承载件的半导体装置及其制法无效

专利信息
申请号: 00132265.6 申请日: 2000-11-14
公开(公告)号: CN1353458A 公开(公告)日: 2002-06-12
发明(设计)人: 白金泉 申请(专利权)人: 联测科技股份有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/28;H01L21/50
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 程伟
地址: 中国*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种无晶片承载件的半导体装置,包括一晶片,多个导电元件,与该晶片形成电性连接关系;第一胶体,使与外界装置藉该导电元件的连结而与晶片形成电性连接关系,且令各该导电元件的端部与第一胶体的外表面共平面,以提供本发明的半导体装置良好的加工平面,而可提高其与外界装置电性连接的加工性与优良率;以及第二胶体,其形成于该晶片的非作用表面上,使与该第一胶体共同构成保护该晶片的结构体。本发明并提供一种制造半导体装置的方法。
搜索关键词: 晶片 承载 半导体 装置 及其 制法
【主权项】:
1.一种无晶片承载件的半导体装置,由晶片、导电元件和胶体组成,其特征在于该装置包括:一晶片(10),具有一作用表面(100)与一相对的非作用表面(101);多个导电元件(11),其布设于该晶片(10)的作用表面(100)上,并与该晶片(10)电性连接;一第一胶体(12),其系形成于该晶片(10)的作用表面(100)上,以将该作用表面(100)与外界气密隔离,并包覆该导电元件(11),使各导电元件(11)的端部(110)外露出该第一胶体(12)且与该第一胶体(12)的外表面(120)的共平面;以及一第二胶体(13),其形成于该晶片(10)的非作用表面(101)上。
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