[发明专利]低密度粉末料位超声波连续测量仪无效

专利信息
申请号: 00125740.4 申请日: 2000-10-20
公开(公告)号: CN1125972C 公开(公告)日: 2003-10-29
发明(设计)人: 汤建明;谭震威 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01F23/296 分类号: G01F23/296
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200092*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 低密度粉末料位超声波连续测量仪,包括超声换能器,测温传感器,微处理器,超声发射接收电路,滤波电路,放大电路,高速采样电路,对数放大电路,门电路,A/D采样电路,D/A输出电路及数字显示器。本发明测量仪通过测试软件自动激活各个操作过程和实现人机对话进行全天候连续地进行测量并可进行远程传输,对气流输送条件下的自由堆积密度从0.5T/m3~1.3T/m3微米级粒径物料的料位测量精度达到0.5%。
搜索关键词: 密度 粉末 超声波 连续 测量仪
【主权项】:
1.低密度粉末料位超声波连续测量仪,由显示器(1),D/A输出电路(2),微处理器(3),A/D采样电路(4),温度传感器(5),超声换能器(6),高速采样电路(7),发射电路(8),门电路(9),对数放大器(10),滤波电路(11),放大电路(12)组成,其特征在于:超声换能器(6)由辐射器(13),束控器(14),屏蔽层(15),前置匹配(16),激励晶体(17),后置匹配(18)及壳体(19)和电缆(20)组成,工作时作纵—弯曲多模复合振动,并对辐射面进行自清洁;束控器(14)设在辐射器(13)上,辐射器(13)的底部与前置匹配(16)相连接,激励晶体(17)设在前置匹配(16)与后置匹配(18)之间,并和前置匹配(16)、后置匹配(18)一起设在壳体(19)内,电缆(20)与发射电路(8)连接,超声换能器(6)在微处理器(3)控制的发射电路(8)激励发射超声波和接收超声回波,超声回波经放大电路(12)、滤波电路(11)、对数放大电路(10)、门电路(9)判别处理。
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