[发明专利]用于从半导体废水中同时沉淀多种金属离子以提高微滤器工作效率的合成物和方法

权利要求书

1、一种化合物，其结构式为：其中R是H或者CS₂^-X⁺，X⁺是碱金属、碱土金属或者铵，n是使该化合物的总分子量在大约3000-100,000范围内的重复单元数。

2、如权利要求1所述的化合物，其特征在于至少大约5％的R是CS₂^-X⁺。

3、如权利要求1所述的化合物，其特征在于大约20-70％的R是CS₂^-X⁺。

4、一种从含有研磨固体的半导体废水中同时沉淀多种可溶性重金属离子，并提高微滤器工作效率的方法，包括在废水中添加有效量的含有二硫代氨基甲酸盐官能团的水溶性聚合物。

5、如权利要求4所述的方法，其特征在于重金属离子选自铜、镍、锌、铅、汞、镉、银、铁、镁以及它们的混合物。

6、如权利要求4所述的方法，其特征在于研磨固体选自铝土、硅土、铈土、氧化锗、二氧化钛、氧化锆以及它们的混合物。

7、如权利要求4所述的方法，其特征在于水溶性聚合物含有二硫代氨基甲酸盐官能团，分子式为R’₂N-R，其中R’是烷基、芳基或者其被取代的衍生物，R是H或者CS₂^-X⁺，X⁺是碱金属、碱土金属或者铵。

8、如权利要求7所述的方法，其特征在于水溶性聚合物选自聚二烯丙基胺、聚氮丙啶和表氯醇的二硫代氨基甲酸盐衍生物，以及多官能团胺的缩聚物。

9、如权利要求4所述的方法，其特征在于在废水中添加至少有效量的含有二硫代氨基甲酸盐官能团的水溶性聚合物，使重金属离子从废水中沉淀出来。

10、如权利要求4所述的方法，其特征在于微滤器滤芯的最大通过微粒尺寸在大约0.1-5微米范围内。

11、如权利要求4所述的方法，其特征在于微滤器滤芯的最大通过微粒尺寸在大约0.1-1微米范围内。

12、如权利要求4所述的方法，其特征在于进一步包括在向半导体废水加入含有二硫代氨基甲酸盐官能团的水溶性聚合物之前，将半导体废水的pH值调节到4-12之间。

13、如权利要求4所述的方法，其特征在于进一步包括在向半导体废水加入含有二硫代氨基甲酸盐官能团的水溶性聚合物之前，将半导体废水的pH值调节到6-10之间。

14、如权利要求4所述的方法，其特征在于进一步包括在向半导体废水加入含有二硫代氨基甲酸盐官能团的水溶性聚合物之前，将半导体废水的pH值调节到7-9之间。

15、如权利要求4所述的方法，其特征在于在微滤器之前，在废水中加入含有二硫代氨基甲酸盐官能团的水溶性聚合物。

16、如权利要求4所述的方法，其特征在于半导体废水中还含有氧化剂。

17、如权利要求16所述的方法，其特征在于氧化剂选自碘酸钾、亚铁氰化钾、过氧化氢、硝酸铁、硝酸银、硝酸、硫酸、次氯酸钾、高锰酸钾、过硫酸铵、过二硫酸铵、过乙酸、高碘酸、过一硫酸、过一硫酸钾、过一硫酸盐、丙二酰胺、脲过氧化氢、重铬酸钾、溴酸钾、三氧化二钒、氧化水、臭氧化水以及它们的混合物。

18、一种从含有研磨固体的半导体废水中同时沉淀多种可溶性重金属离子，并提高滤芯最大通过微粒尺寸在大约0.1-5微米范围内微滤器的工作效率的方法，包括在废水中添加至少有效量的含有二硫代氨基甲酸盐官能团的水溶性聚合物，使重金属离子从废水中沉淀出来。