[发明专利]在光记录介质中记录数据的方法与装置

权利要求书

1.一种带有管理光记录介质的缺陷的缺陷管理区(DMA)的光记录介质，包括DMA中的记录识别信息的一个区，其特征在于所述识别信息代表替代块是否已经根据线性替代被分配。

2.根据权利要求1的光记录介质，其特征在于所述记录识别信息的区被分配到所述DMA中次要缺陷列表(SDL)的保留区。

3.根据权利要求1的光记录介质，其特征在于所述识别信息表示在根据跳过算法写入数据时或光记录介质的备用区充满时SDL中的缺陷块信息是否被引入。

4.一种管理数据记录期间发现的缺陷块的光记录介质的缺陷管理方法，所述方法包括：

(A)在光记录介质记录数据期间如果发现缺陷块就判定是否应分配替代块；

(B)存储关于缺陷块的信息，该信息表示基于步骤(A)的结果是否以根据线性替代为缺陷块分配替代块。

5.根据权利要求4的缺陷管理方法，其特征在于步骤(A)中，替代块在数据实时记录期间不被分配。

6.根据权利要求5的缺陷管理方法，其特征在于步骤(A)中，跳过缺陷块和设置LRC信息来表示替代块没有根据线性替代来被分配。

7.根据权利要求5的缺陷管理方法，其特征在于步骤(A)中，把强制再分配标记信息复位为0。

8.根据权利要求4的缺陷管理方法，其特征在于步骤(A)中，如果没有可利用的替代区，不分配替代块。

9.根据权利要求4的缺陷管理方法，其特征在于步骤(B)中，关于缺陷块的信息与缺陷块信息一起被存储在缺陷管理区的次要缺陷列表(SDL)中。

10.根据权利要求9的缺陷管理方法，其特征在于如果在非实时写入数据期间发现的缺陷块没有列在SDL中，并且如果没有可利用的替代区，所述方法还包括：

设置和存储LRC信息以表示替代块没有被分配；

存储缺陷块的位置信息；及

设置和存储替代块的位置信息为0。

11.根据权利要求9的缺陷管理方法，其特征在于如果在非实时写入数据期间发现的缺陷块没有列在SDL中，并且如果有可利用的替代区，所述方法还包括：

把替代快分配给缺陷块；

写入数据到分配给缺陷块的替代块；及

设置和存储LRC信息以表示已经分配了替代块；

存储缺陷块的位置信息；及

设置和存储分配给缺陷块的替代块的位置信息。

12.根据权利要求9的缺陷管理方法，其特征在于如果在非实时写入数据期间发现的缺陷块列在SDL中，并且如果已经有分配给缺陷块的替代块，使用所述已经分配给缺陷块的替代块执行线性替代。

13.如权利要求9所述的缺陷管理方法，其特征在于如果在非实时写入数据期间发现的缺陷块列在SDL中，并且没有被分配给缺陷块的替代块，所述方法还包括：

如果有可利用的替代区，分配替代块给缺陷块；

把数据写入分配给缺陷块的替代块；

设置和存储LRC信息来表示替代块已经被分配；

存储缺陷块的位置信息；及

设置和存储分配给缺陷块的替代块的位置信息。

14.如权利要求4所述的缺陷管理方法，其特征在于关于缺陷块的信息被传送给主机。

15.如权利要求14所述的缺陷管理方法，其特征在于关于缺陷块的信息被嵌入在标题中以传送到主机。

16.如权利要求14所述的缺陷管理方法，其特征在于在完成数据记录后，关于缺陷块的信息与命令执行报告一起被传送给主机。