[发明专利]病原菌和疾病相关基因突变诊断专用DNA芯片的检测方法

权利要求书

1.一种病原菌和疾病相关基因突变诊断专用DNA芯片的检测新方法其特征在于利用半导体微电子加工技术在玻片上形成中密度的微金电极阵列，在电极阵列的不同金电极表面用阵列点样仪将不同的DNA探针固定于阵列电极表面，用电极阵列表面的特异性DNA探针杂交方法来检测各种病原菌的特异基因及疾病相关基因突变，杂交过程和杂交区域通过电极阵列中不同的电极自由控制，用电化学发光，电极电化学方法或激光激发荧光扫描方法等检测杂交信号。

2.根据权利要求1所述的病原菌和疾病相关基因突变诊断专用DNA芯片的检测新方法其特征在于所说的微金电极阵列的制作过程为：先设计专用芯片的模式图[11]，以一定的模式在玻片上镀一层铬[15]，再在铬层表面镀一层金[16]，利用掩膜方式，以氮化硅作为绝缘层[17]，在不同的金薄膜区域构建金电极阵列[13]，每一区域电极阵列利用同一引线[14]和电极转换开关[18]进行电化学控制[19]。

3.根据权利要求1或2病原菌和疾病相关基因突变诊断专用DNA芯片的检测新方法其特征在于所说的DNA探针的固定是用巯基修饰DNA探针，利用巯基化合物在活性金表面形成自组装单分子层性质，将DNA探针固定于电极阵列或在金表面形成的自组装单分子层，使金电极表面拥有活性羧基，将氨基修饰的DNA探针固定于阵列电极表面。

4.根据权利要求1或2病原菌和疾病相关基因突变诊断专用DNA芯片的检测新方法其特征在于所说的DNA芯片表面杂交过程为：构建的DNA芯片插入专用DNA芯片杂交控制盒，使用低导电性杂交溶液，利用对电极与区域阵列电极场电流脉冲，促使DNA样品在杂交阵列电极区域浓缩，加快样品DNA与芯片上固定探针杂交过程；反向电流脉冲刺激，去除非特异性吸附的DNA和碱基失配杂交DNA，用低电流脉冲作用使杂交在10分钟内完成；反向低电流脉冲区分全配杂交和单碱基失配杂交。