[发明专利]一种侧裂提取方法、装置、储存介质及设备

权利要求书

1.一种侧裂提取方法，其特征在于，包括以下步骤：

第一步，采用已有专利技术CN114266789A方法1～4步提取全脑脑外间隙、大脑皮层区域Cortex_ROI，得到全脑脑沟脑室区域csf_ROI；

第二步，采用ITK刚性配准方法实现头部三维校正；

第三步，提取侧裂；

第四步，拟合生成异常侧侧裂。

2.根据权利要求1所述的一种侧裂提取方法，其特征在于：

第三步具体包括：

(1)提取z轴候选范围：提取断层切面面积最大层上下1.5cm，共3cm范围为侧裂所在z轴方向候选层(slice1、……sliceM)；

(2)提取y轴方向候选范围：遍历(slice1、……sliceM)，计算各断层slice头骨上缘与下缘之间的距离H，H均分为4份，第2/4区域为侧裂所在区域(slice1_y、……sliceM_y)；

(3)提取x轴候选范围：计算断层最左侧与最右侧之间的距离W，W均分3份，取出(slice1_y、……sliceM_y)两侧的区域(slice1_xy、……sliceM_xy)；

(4)提取侧裂：提取(slice1_xy、……sliceM_xy)区域内的第一步所得csf_ROI中为分割得到的双侧侧裂。

3.根据权利要求1所述的一种侧裂提取方法，其特征在于：

第四步具体包括：

(1)确定病变侧：统计两侧侧裂体积，体积小的一侧为病变侧；

(2)对称拟合生成：将正常侧侧裂以中轴线做镜像对称，拟合为病变侧侧裂。

4.一种侧裂提取模型，其特征在于，通过权利要求1至3中任一项所述的侧裂提取方法构建得到。

5.一种侧裂提取装置，其特征在于，包括权利要求4所述的侧裂提取模型。

6.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至3中任一项所述的侧裂提取方法中的步骤。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至3中任一项所述的侧裂提取方法。