[发明专利]一种神经元膜电位数据的下采样方法

权利要求书

1.一种神经元膜电位数据的下采样方法，应用于脉冲神经元仿真，其特征在于，所述神经元膜电位数据的下采样方法，包括：

将原始采集的膜电位数据进行分桶；

筛选桶中的局部严格极值点；

若桶中不存在局部严格极值点，则使用桶中第一个和最后一个膜电位数据代表桶中所有的膜电位数据；否则使用桶中第一个膜电位数据、最后一个膜电位数据以及全部或部分局部严格极值点代表桶中所有的膜电位数据；

收集所有桶中的代表数据形成最终的下采样数据。

2.如权利要求1所述的神经元膜电位数据的下采样方法，其特征在于，还包括建立用于可视化显示膜电位数据的平面直角坐标系，所述平面直角坐标系的横坐标为仿真时间，纵坐标为仿真时刻对应的膜电位。

3.如权利要求1所述的神经元膜电位数据的下采样方法，其特征在于，所述将原始采集的膜电位数据进行分桶，包括：

对原始采集的膜电位数据根据仿真时间先后顺序进行排序；

将排序后的第一个膜电位数据分配至第一个桶中，将排序后的最后一个膜电位数据分配至最后一个桶中，将剩余的膜电位数据分配至剩余的桶中。

4.如权利要求3所述的神经元膜电位数据的下采样方法，其特征在于，所述将剩余的膜电位数据分配至剩余的桶中，包括：

令桶的数量为N个，待分配的膜电位数据数量为M个；

则第2个桶至第N-1个桶中分配的数据量均为(M-2)/(N-2)个；

以(M-2)/(N-2)个数据为划分单元，按照仿真时间先后顺序依次划分剩余的膜电位数据，并按照桶的先后顺序依次分配划分后的膜电位数据。

5.如权利要求1所述的神经元膜电位数据的下采样方法，其特征在于，所述筛选桶中的局部严格极值点，包括：

从第二个桶开始，结合前一个桶中的最后一个膜电位数据和后一个桶中的第一个膜电位数据，判断桶中的每一个膜电位数据是否为局部严格极值点，完成筛选。

6.如权利要求5所述的神经元膜电位数据的下采样方法，其特征在于，所述局部严格极值点的判断方法如下：

取待判断的膜电位数据为当前数据点，取当前数据点的前一个膜电位数据为前一数据点，取当前数据点的后一个膜电位数据为后一数据点；

计算所述当前数据点与所述前一数据点的连线的斜率作为第一斜率，同时计算所述当前数据点与所述后一数据点的连线的斜率作为第二斜率；

若第一斜率与第二斜率的乘积小于零，则判断所述当前数据点为局部严格极值点；否则判断所述当前数据点不为局部严格极值点。

7.如权利要求1所述的神经元膜电位数据的下采样方法，其特征在于，所述使用桶中第一个膜电位数据、最后一个膜电位数据以及全部或部分局部严格极值点代表桶中所有的膜电位数据，包括：

若桶中包含一个或两个局部严格极值点，则使用桶中第一个膜电位数据、最后一个膜电位数据以及全部的局部严格极值点代表桶中所有的膜电位数据；

若桶中包含大于两个的局部严格极值点，则从大于两个的局部严格极值点中筛选出最大局部极大值点和最小局部极小值点，并使用桶中第一个膜电位数据、最后一个膜电位数据、最大局部极大值点和最小局部极小值点代表桶中所有的膜电位数据。